Печать

Тестер полупроводниковых элементов

Опубликовано . Опубликовано в Устройства на AVR

Рейтинг:   / 30
ПлохоОтлично 
Тестер полупроводниковых элементов - внешний вид В этой статье представлено устройство - тестер полупроводниковых элементов.   Прототипом этого устройства послужила статья размещенная на одном из немецких сайтов. Тестер с высокой точностью определяет номера и типы выводов транзистора, тиристора, диода и др. Будет очень полезен начинающему радиолюбителю. 

Типы тестируемых элементов

(имя элемента - индикация на дисплее):
- NPN транзисторы - на дисплее "NPN"
- PNP транзисторы - на дисплее  "PNP"
- N-канальные-обогащенные MOSFET - на дисплее "N-E-MOS"
- P-канальные-обогащенные MOSFET - на дисплее "P-E-MOS"
- N-канальные-обедненные MOSFET - на дисплее  "N-D-MOS"
- P-канальные-обедненные MOSFET - на дисплее "P-D-MOS"
- N-канальные JFET - на дисплее "N-JFET"
- P-канальные JFET - на дисплее "P-JFET"
- Тиристоры - на дисплее "Tyrystor"
- Симисторы - на дисплее "Triak"
- Диоды - на дисплее "Diode"
- Двухкатодные сборки диодов - на дисплее "Double diode CK"
- Двуханодные сборки диодов - на дисплее "Double diode CA"
- Два последовательно соединенных диода - на дисплее "2 diode series"
- Диоды симметричные - на дисплее "Diode symmetric"
- Резисторы - диапазон от 0,5 К до 500К [K]
- Конденсаторы - диапазон от 0,2nF до 1000uF [nF, uF]
При измерении сопротивления или емкости устройство не дает высокой точности
Описание дополнительных параметров измерения:
- H21e (коэффициент усиления по току) - диапазон до 10000
- (1-2-3) - порядок подключенных выводов элемента
- Наличие элементов защиты - диода - "Символ диода"
- Прямое напряжение – Uf [mV]
- Напряжение открытия  (для MOSFET) - Vt [mV]
- Емкость затвора (для MOSFET) - C= [nF]

Тестер полупроводниковых элементов - схема устройства

Схема устройства

Программирование микроконтроллера

Если вы используйте программу AVRStudio достаточно в настройках fuse-битов записать 2 конфигурационных бита: lfuse = 0xc1 и hfuse = 0xd9. Если Вы используйте другие программы настройте fuse-биты в соответствие с рисунком. В архиве находятся прошивка микроконтроллера и прошивка EEPROM, а также макет печатной платы.

Тестер полупроводниковых элементов - Fuse-биты

Fuse-биты mega8

Процесс измерения достаточно прост: подключите тестируемый элемент к разъему (1,2,3) и нажмите кнопку "Тест". Тестер покажет измеренные показания и через 10 сек. перейдет в режим ожидания, это сделано для экономии заряда батареи. Батарея используется напряжением 9V типа "Крона".

Тестирование симистора
Тестирование симистора
Тестирование диода
Тестирование диода
 
Тестирование светодиода
Тестирование светодиода
 
Тестирование сдвоенного диода
Тестирование сдвоенного диода
 
Тестирование MOSFET
Тестирование MOSFET
 
Тестирование транзистора NPN
Тестирование транзистора NPN
 
Тестирование транзистора PNP
Тестирование транзистора PNP
 
 
Файлы:
Исходный код программы(СИ), файл прошивки микроконтроллера
Дата 04.05.2010 Размер файла 8.1 KB Закачек 10209

Комментарии  

+2 #101 AntonChip 27.07.2014 15:11
Цитирую Виктор:
А что? И вправду исходник в архиве??? Я там увидел только схему печать и прошивки

Исходник правда в архиве
Сообщить модератору
0 #102 OSMOZIS1996 27.01.2015 15:57
Народ. Подскажите нубу, для чего резистор между 7 и 20 ножками. И еще косяк, подключаю крону, нажимаю кнопку, и всё, он в зацикленном состоянии. Т.е. пока батарейку не вытащишь он будет постоянно пытаться что-то измерить.
Сообщить модератору
0 #103 OSMOZIS1996 27.01.2015 16:27
Всё. разобрался.
Сообщить модератору
0 #104 Yuriy1 17.03.2016 08:08
С прошивкой в статье все работает. Правда с разными контроллерами выдает разные показания. Приборчик не точный. При прошивке более новыми прошивками, сразу после проверки выдает timeout без получения показаний, конпка тест не работает. Кто сталкивался? есть версии?
Сообщить модератору

Рекомендуем посмотреть